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2020, No.138(04) 42-44

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基于CDEGS的裸导体表面电场强度分析
Field Intensity Analysis of Bare Conductor Based on CDEGS

胡振兴;

摘要(Abstract):

DL/T 5222-2005《导体和电器选择设计技术规定》提供了裸导体可不验算电晕的最小外径的计算公式,选定的导体表面电场强度水平是否满足Q/GDW 551-2010 《变电站控制电晕噪声技术导则(导体金具类)》等相关规范的电晕控制要求并有多少裕度不得而知,且应用于750 kV、1 000 kV电压等级的经验不多。本文基于CDEGS仿真计算软件,对按DL/T 5222-2005规范选定的可不校验电晕的最小外径的导体表面电场强度进行了核算。结果表明按DL/T 5222-2005规范进行750 kV、1 000 kV导体电晕最小外径时是可靠的,且海拔1 000 m及以下全面电晕电场强度E_0宜取2 000 V/mm。

关键词(KeyWords): 裸导体;电晕;导体表面电场强度;CDEGS;电晕临界电压

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Authors): 胡振兴;

DOI: 10.13500/j.dlkcsj.issn1671-9913.2020.04.010

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